掃描電子顯微鏡（掃描電子顯微鏡、掃描電鏡/SEM）的基本組成部分是傳輸系統(tǒng)、電子槍系統(tǒng)、電子采集系統(tǒng)、觀察記錄系統(tǒng)以及相關(guān)的電子系統(tǒng)。那么，掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是什么呢？接下來，小編給大家介紹一下掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)有哪些。

掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌掃描電子顯微鏡觀察方法。它可以直接利用樣品表面材料的材料特性進(jìn)行顯微成像。

掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是：

①放大倍數(shù)較高，20萬～20萬倍連續(xù)可調(diào)；

②具有大景深、大視野、立體影像，可直接觀察各種樣品的凹凸不平表面，精細(xì)結(jié)構(gòu)；

③樣品制備簡單。

目前的掃描電子顯微鏡配備了X射線能譜儀裝置，既可以觀察微觀結(jié)構(gòu)，又可以分析微觀區(qū)域的成分。因此，它是當(dāng)今非常有用的科研儀器。

秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺式掃描電鏡ZEM15。ZEM15掃描速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng)，體積小巧，便于移動，可出差攜帶，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電就可工作。