4001-123-022 
-
SEM掃描電鏡的微生物樣品制備方法介紹
掃描電鏡的微生物樣品制備方法是一個(gè)復(fù)雜但精細(xì)的過(guò)程，它確保了微生物樣品在電鏡觀察下的清晰度和準(zhǔn)確性。以下是一個(gè)詳細(xì)的微生物樣品制備方法介紹：一、取樣 目的：獲取具有代表性的微生物樣品。操作：使用無(wú)菌工具（如無(wú)菌剪刀或鑷子）從特定環(huán)境（如陽(yáng)極表面、培養(yǎng)基等）中取樣。取樣時(shí)應(yīng)注意避免污染，保持樣品的原始狀態(tài)。...
2024-07-10
-
SEM掃描電鏡拍樣品截面時(shí)有那些需要注意的？
在使用掃描電鏡拍攝樣品截面時(shí)，需要注意以下幾個(gè)方面以確保獲得高質(zhì)量的圖像和數(shù)據(jù)：一、樣品制備 樣品類型與制樣方法：對(duì)于脆性薄片如硅片、玻璃鍍膜片等，可直接掰斷或敲斷以獲取截面。...
2024-07-09
-
sem掃描電鏡怎樣分析材料結(jié)構(gòu)
掃描電鏡在分析材料結(jié)構(gòu)方面發(fā)揮著重要作用，其通過(guò)高分辨率成像和組成分析，為材料科學(xué)研究提供了有力的工具。以下是SEM掃描電鏡如何分析材料結(jié)構(gòu)的具體步驟和原理：一、掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu) SEM掃描電鏡主要由以下幾個(gè)部分組成：電子光學(xué)系統(tǒng)：包括電子槍、聚光鏡、物鏡和掃描線圈等。電子槍產(chǎn)生高能電子束，經(jīng)過(guò)聚光鏡和物鏡的聚焦和縮小，形成微細(xì)電子束。掃描線圈則負(fù)責(zé)驅(qū)動(dòng)電子束在樣品表面按一定時(shí)間和空間順序進(jìn)行掃描。信號(hào)收集處理系統(tǒng)：負(fù)責(zé)收集由電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等。這些信號(hào)經(jīng)過(guò)處理后可以轉(zhuǎn)換為反映樣品表面形貌和組成的信息。...
2024-07-08
-
SEM掃描電鏡的拍攝技巧分享
掃描電鏡的拍攝技巧涉及多個(gè)方面，包括樣品制備、儀器設(shè)置、拍攝操作以及后期處理等。以下是一些關(guān)鍵的拍攝技巧分享：一、樣品制備 導(dǎo)電性處理：樣品表面需要導(dǎo)電，以防止電荷積聚導(dǎo)致的成像質(zhì)量下降。通常通過(guò)噴鍍一層導(dǎo)電薄膜（如金或鉑）來(lái)提高樣品的導(dǎo)電性。噴鍍時(shí)間一般為90秒，具體流程需按照噴金儀器的操作指南進(jìn)行。對(duì)于粉末樣品，可以貼導(dǎo)電膠，直接沾取樣品或使用乙醇溶液滴在導(dǎo)電膠上，待干燥后進(jìn)行拍攝。...
2024-07-05
-
SEM掃描電鏡案例分享之觀察納米纖維生態(tài)位及動(dòng)態(tài)觀察及其降解過(guò)程形貌變化
掃描電鏡在觀察納米纖維生態(tài)位及其動(dòng)態(tài)觀察、降解過(guò)程形貌變化方面具有重要應(yīng)用。以下是一個(gè)詳細(xì)的案例分享：一、案例背景 隨著納米技術(shù)的快速發(fā)展，納米纖維在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用前景。然而，納米纖維的生態(tài)位、動(dòng)態(tài)變化以及降解過(guò)程等方面的研究仍面臨諸多挑戰(zhàn)。SEM掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微成像技術(shù)，能夠直觀地展示納米纖維的形貌特征，為相關(guān)研究提供有力支持。二、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?本案例旨在通過(guò)掃描電鏡觀察納米纖維的生態(tài)位、動(dòng)態(tài)變化以及降解過(guò)程中的形貌變化，深入了解納米纖維的微觀結(jié)構(gòu)和性能變化，為納米纖維的應(yīng)用提供理論依據(jù)和實(shí)驗(yàn)參考。...
2024-07-04
-
SEM掃描電鏡具體可以測(cè)試哪方面的參數(shù)呢？
掃描電鏡作為一種高分辨率的微觀成像技術(shù)，能夠測(cè)試多種與材料表面和微觀結(jié)構(gòu)相關(guān)的參數(shù)。以下是SEM掃描電鏡具體可以測(cè)試的參數(shù)及其詳細(xì)說(shuō)明：1. 分辨率 定義：掃描電鏡的分辨率決定了圖像中能夠分辨的Z小細(xì)節(jié)尺寸。重要性：高分辨率意味著圖像更加清晰，能夠觀察到的細(xì)節(jié)更多，對(duì)于材料表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的分析至關(guān)重要。...
2024-07-03
-
SEM掃描電鏡怎樣分析材料結(jié)構(gòu)
掃描電鏡在分析材料結(jié)構(gòu)時(shí)，通過(guò)一系列復(fù)雜的技術(shù)環(huán)節(jié)和步驟，能夠揭示出材料表面的微觀形貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。以下是對(duì)SEM掃描電鏡如何分析材料結(jié)構(gòu)的詳細(xì)解析：一、基本原理 掃描電鏡利用高能電子束在樣品表面進(jìn)行光柵狀掃描，通過(guò)探測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的多種信號(hào)（如二次電子、背散射電子、X射線等）來(lái)觀察和分析樣品。這些信號(hào)被探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，再經(jīng)過(guò)放大和處理后形成圖像，從而反映出樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)信息。...
2024-07-02
-
SEM掃描電鏡如何進(jìn)行分析？
SEM掃描電鏡的分析過(guò)程主要基于探測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號(hào)。以下是掃描電鏡進(jìn)行分析的詳細(xì)步驟和要點(diǎn)：工作原理：掃描電鏡通過(guò)頂部的電子光源（電子槍）發(fā)射電子，這些電子在加速電壓的作用下，經(jīng)過(guò)電磁透鏡聚焦成極細(xì)的電子束。電子束在樣品表面進(jìn)行有序的光柵掃描，與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等多種信息。...
2024-07-01
-
SEM掃描電鏡在動(dòng)物毛發(fā)微觀結(jié)構(gòu)研究中的具體應(yīng)用介紹
SEM掃描電鏡在動(dòng)物毛發(fā)微觀結(jié)構(gòu)研究中的具體應(yīng)用介紹如下：一、背景與意義 毛發(fā)是哺乳動(dòng)物皮膚表皮部角質(zhì)層的衍生物，具有多種形態(tài)和結(jié)構(gòu)特征。不同動(dòng)物的毛發(fā)在長(zhǎng)短、粗細(xì)、色澤等方面存在差異，這些差異與其微觀結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)。因此，研究動(dòng)物毛發(fā)的微觀結(jié)構(gòu)對(duì)于了解毛發(fā)的生長(zhǎng)、發(fā)育、功能以及動(dòng)物種類的識(shí)別具有重要意義。...
2024-06-28
-
SEM掃描電鏡能測(cè)出線寬的真實(shí)長(zhǎng)度嗎？
掃描電鏡能夠測(cè)出線寬的真實(shí)長(zhǎng)度。但要實(shí)現(xiàn)這一功能，需要滿足一定的條件和步驟：SEM掃描電鏡設(shè)備的應(yīng)用：掃描電鏡自問(wèn)世以來(lái)，已成為許多科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域的重要研究工具。特別是在半導(dǎo)體行業(yè)，SEM掃描電鏡的定量應(yīng)用主要體現(xiàn)在測(cè)量或計(jì)量上。隨著技術(shù)的發(fā)展，CD-SEM（Critical Dimension Scanning Electron Microscope，關(guān)鍵尺寸掃描電子顯微鏡）已被用作半導(dǎo)體加工生產(chǎn)線上的主要測(cè)量工具，用于監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程。...
2024-06-27
-
SEM掃描電鏡有哪幾種工作模式？
SEM掃描電鏡具有多種工作模式，以滿足不同樣品和分析需求。以下是常見(jiàn)的幾種工作模式及其特點(diǎn)：高真空模式：基本工作模式，樣品和檢測(cè)器被置于高真空環(huán)境中。適用于大多數(shù)樣品觀察和分析，尤其是固態(tài)樣品。提供清晰的圖像和較高的分辨率。...
2024-06-26
-
SEM掃描電鏡常見(jiàn)問(wèn)題解決辦法介紹
掃描電鏡在使用過(guò)程中可能會(huì)遇到一些常見(jiàn)問(wèn)題，以下是這些問(wèn)題的解決辦法介紹：1. 圖像模糊或失真 可能原因：電子束調(diào)節(jié)不當(dāng) 透鏡系統(tǒng)故障 樣品表面不光滑 解決辦法：重新調(diào)整電子束和透鏡系統(tǒng)，確保參數(shù)設(shè)置正確。檢查透鏡系統(tǒng)的清潔度，如有需要，進(jìn)行清潔。確保樣品表面平坦，如樣品表面不平坦，需重新制備樣品。...
2024-06-25
津公網(wǎng)安備12011002023086號(hào)
首頁(yè)
產(chǎn)品
案例
聯(lián)系