掃描電鏡，簡稱SEM,是一種重要的掃描探針顯微鏡。它使用聚焦的電子束來掃描樣品表面，通過光致發(fā)射、光致吸收和二次電子發(fā)射等現(xiàn)象，獲取關(guān)于樣品表面形貌、成分和結(jié)構(gòu)的信息，是材料科學(xué)、生物學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域的重要研究工具。

盡管掃描電鏡在科學(xué)研究中發(fā)揮了巨大的作用，但我們也需要理解其使用的局限性。首先，SEM主要依賴于樣品的導(dǎo)電性和表面形貌來產(chǎn)生圖像，因此對于非導(dǎo)電或表面形貌復(fù)雜的樣品，如生物組織或非晶體材料，可能無法提供準確的信息。此外，SEM也不能像透射電子顯微鏡那樣，獲得材料整個截面的圖像。*后，SEM的工作環(huán)境對樣品溫度和濕度有較高的要求，這可能限制了其在某些特殊環(huán)境下的應(yīng)用。

隨著科技的發(fā)展，我們正在努力克服這些挑戰(zhàn)，例如利用新的照明技術(shù)改善圖像質(zhì)量和對比度，或者開發(fā)新型的SEM探針和樣品處理方法?？偟膩碚f，掃描電鏡作為一種強大的工具，正在幫助我們更深入地理解微觀世界，并為各種領(lǐng)域的研究提供了寶貴的信息。