掃描電子顯微鏡工作原理及主要結(jié)構(gòu)(一) - 分析行業(yè)新聞
日期:2023-02-11 16:07 瀏覽次數(shù):110
掃描電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器,它是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門學(xué)科的綜合應(yīng)用。
1.工作原理
掃描電鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um),在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚,形成直徑為5 nm的電子束,聚焦在樣品表面上,在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下,電子束在樣品上做光柵狀掃描,電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子,再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理,*終成像在顯示系統(tǒng)上。
試樣可為塊狀或粉末顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是*主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5~35keV的電子,以其交叉斑作為電子源,經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束,在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下,于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序做柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用,產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號(hào)),二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電信號(hào),經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,可得到反應(yīng)試樣表面形貌的二次電子像。
2.主要結(jié)構(gòu)
掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)。圖24-1、圖24-2為掃描電子顯微鏡外形圖和主機(jī)構(gòu)造示意圖。
2.1電子光學(xué)系統(tǒng)
這部分主要由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈、樣品室組成。電子槍提供一個(gè)穩(wěn)定的電子源,形成電子束,一般使用鎢絲陰極電子槍,用直徑約為0.1 mm的鎢絲,彎成發(fā)夾形,形成半徑約為100um的V形**。當(dāng)燈絲電流通過(guò)時(shí),燈絲被加熱,達(dá)到工作溫度后便發(fā)射電子,在陰極和陽(yáng)極間加有高壓,這些電子則向陽(yáng)極加速運(yùn)動(dòng),形成電子束。電子束在高壓電場(chǎng)作用下,被加速通過(guò)陽(yáng)極軸心孔進(jìn)入電磁
圖24-1 JEOLJSM-6380LV型掃描電子顯微鏡外形圖
透鏡系統(tǒng)。該系統(tǒng)由聚光鏡和物鏡組成,其作用是依靠透鏡的電磁場(chǎng)與運(yùn)動(dòng)電子相互作用使電子束聚焦,將電子槍發(fā)射的電子束10~50um壓縮成5~20nm,縮小到約1/10000。聚光鏡可以改變?nèi)肷涞綐悠飞想娮邮鞯拇笮?,物鏡決定電子束束斑的直徑。電子光學(xué)系統(tǒng)中存在的球差、色差、像散等,都會(huì)影響*終圖像的質(zhì)量。球差的產(chǎn)生使遠(yuǎn)離光軸軌跡上運(yùn)動(dòng)的電子比近軸電子受到的聚焦作用更強(qiáng)??朔姆椒ㄊ窃陔娮庸鈱W(xué)的光軸中加三級(jí)固定光闌擋住發(fā)散的電子束,光闌通常采用厚度為0.05mm的鉬片制作,物鏡消像散器提供一個(gè)與物鏡不均勻磁場(chǎng)相反的校正磁場(chǎng),使物鏡*終形成一個(gè)對(duì)稱磁場(chǎng),產(chǎn)生一束細(xì)聚焦的電子束。
掃描系統(tǒng)主要包括掃描發(fā)生器、掃描線圈和放大倍率變換器,掃描發(fā)生器由X掃描發(fā)生器和Y掃描發(fā)生器組成,產(chǎn)生的不同頻率的鋸齒波信號(hào)被同步送入鏡筒中的掃描線圈和顯示系統(tǒng)CRT中的掃描線圈上。鏡筒的掃描線圈分上、下雙偏轉(zhuǎn)掃描裝置,其作用是使電子束正好落在物鏡光闌孔中心,并在樣品上進(jìn)行光柵掃描。
掃描方式分點(diǎn)掃描、線掃描、面掃描和Y調(diào)制掃描。掃描電鏡圖像的放大倍率是通過(guò)改變電子束偏轉(zhuǎn)角度來(lái)調(diào)節(jié)的。放大倍數(shù)等于CRT面積與電子束在樣品上掃描的面積之比,減小樣品上掃描的面積,就可增加放大倍率。不同放大倍率在樣品上掃描的面積見表24-1。
圖24-2 掃描電子顯微鏡主機(jī)結(jié)構(gòu)示意
表24-1 不同放大倍率在樣品上掃描的面積
電子束在樣品上掃描的面積,由掃描線圈產(chǎn)生的激勵(lì)磁場(chǎng)控制,可以連續(xù)調(diào)節(jié),所以掃描電鏡的放大倍率是可以連續(xù)調(diào)節(jié)的。
樣品室內(nèi)除放置樣品外,還安置信號(hào)探測(cè)器。不同信號(hào)的收集和相應(yīng)探測(cè)器的安放位置有很大的關(guān)系,如果安置不當(dāng),則有可能收不到信號(hào)或收到的信號(hào)很弱,從而影響分析精度。樣品臺(tái)本身是一個(gè)復(fù)雜而精密的組件,它應(yīng)能夾持一定尺寸的樣品,并能使樣品平移、傾斜和轉(zhuǎn)動(dòng),以利于對(duì)樣品上每一特定位置進(jìn)行各種分析。新式掃描電子顯微鏡的樣品室實(shí)際上是一個(gè) 微型試驗(yàn)室,它帶有多種附件,可使樣品在樣品臺(tái)上加熱、冷卻和進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)(如拉伸和疲勞)。
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